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偏振光分析测试

2025-02-26 关键词:偏振光分析测试测试标准,偏振光分析测试测试方法,偏振光分析测试测试仪器 相关:
偏振光分析测试

偏振光分析测试摘要:偏振光分析测试是一种通过检测材料对偏振光的调制特性,评估其光学性能的专业技术。核心检测项目包括偏振度、消光比、相位延迟等参数,适用于光学薄膜、液晶显示器件、光纤通信材料等领域。测试遵循ASTM、ISO及GB/T标准,采用分光偏振计、椭偏仪等精密设备,确保数据准确性和可重复性。

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

偏振度(DoP):测量范围0~1,分辨率±0.005

消光比(ER):测试范围20~60dB,精度±0.2dB

相位延迟量:检测范围0~360°,重复性±0.1°

斯托克斯参数:S0~S3全参数测量,波长范围380~2500nm

双折射率:测量灵敏度Δn≥1×10-6

检测范围

光学薄膜:增透膜、反射膜、偏振分光膜

液晶材料:TN/VA/IPS型液晶盒

光纤器件:保偏光纤、光纤环行器

晶体材料:石英、方解石、铌酸锂晶体

显示面板:LCD、OLED偏振片组件

检测方法

ASTM D1003-21:透明塑料光学特性测试

ISO 13653:2019:光学系统偏振特性测量

GB/T 26827-2011:液晶显示器件光电参数测试

GB/T 18901.2-2013:光纤器件偏振特性检测

ISO 10110-18:2019:光学元件偏振敏感度测试

检测设备

JASCO V-770分光偏振计:波长范围190~2700nm,支持穆勒矩阵测量

Thorlabs PAX1000偏振分析仪:1.5μm波段,消光比测量精度±0.05dB

Hinds PEM-100光弹调制系统:相位延迟测量分辨率0.001λ

Agilent 8509C偏振光分析仪:50MHz~40GHz微波频段测试

Sentech SE800光谱椭偏仪:0.75~6.5eV光子能量范围

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

中析仪器 资质

中析偏振光分析测试 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师

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